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By Günther Langner

In den letzten Jahren ist die Mikroskopie mit Rontgenstrahlen experimen inform verwirklicht worden. Damit ist neben das sichtbare Licht und die Korpuskolarstrahlen, vor allem die Elektronenstrahlen, eine weitere Strahlungsart getreten, die auf dem Wege mikroskopischer Untersuchungs verfahren Aufschlusse uber kleine Objektdetails ermoglicht. Als mikro skopische Verfahren wollen wir dabei alle Verfahren bezeichnen, welche mi totels einer Wechselwirkung des zu untersuchenden Objektes mit der von ihm entweder durchgelassenen Strahlung (Durchstrahlungsmikroskopie) oder reflektierten Strahlung (Reflexionsmikroskopie) oder mittels der vom Objekt selbst emittierten Strahlung (Emissionsmikroskopie) eine Zu ordnung von Eigenschaften des Objektes zu seinem vergrosserten Bild ermoglichen. Wahrend in der Licht- und Elektronenmikroskopie alle drei aufgefuhrten Verfahren gelaufig sind, liegt der Schwerpunkt in der Rontgenstrahlmikroskopie bisher quick ausschliesslich auf dem Gebiete der Durchstrahlungsmikroskopie. Die Emissionsmikroskopie ist aber auch bereits experimentell verwirklicht (CASTAING (1951), CASTAING und DESCAMPS (1955), DUNCAMB (1957). Aus Grunden, welche weiter unten eror tert werden sollen, stehen der Reflexionsmikroskopie mit Rontgenstrah len grosse prinzipielle Schwierigkeiten entgegen. Anders als beim Licht und bei den Elektronenstrahlen gibt es fur die Durchstrahlungsmikroskopie mit Rontgenstrahlen eine ganze Reihe z. T. grundsatzlich verschiedener Verfahren, mit denen versucht wird, die erheblichen prinzipiellen Schwierigkeiten zu meistern, welche die ex perimentelle Verwirklichung der, Rontgenstrahlmikroskopie so lange hinausgezogert haben. Uber die verschiedenen Verfahren der Rontgenstrahlmikroskopie sind bereits eine Reihe zusammenfassender Arbeiten erschienen, z. B. von KIRKPATRICK und PATTEE (1957) und von HILDENBRAND (1956), in denen zahlreiche Literaturstellen zitiert sind. Kurzere Ubersichten finden sich bei COSSLETT (1954) und NIXON (195

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2 Das der Betrachtung der Röntgenstrahl-Projektions-mikroskope zu Grunde gelegte Koordinatensystem Die Strahlungseigenschaften der Röntgenstrahlquelle seien durch die Quellenfunktion q er,q e , ~ daß von einem Flächenelement df element d Q = sin e de d~ ) q beschrieben. Diese sei so definiert, der Quellenebene in das Raumwinkel- die Röntgenstrahlleistung (3. 60) emittiert wird. Innerhalb des vom abzubildenden Objektfeld bestimmten Raumwinkels Qo vernachlässigen wir die Abhängigkeit der Quellenfunk- Sei te 32 tion von der Emissionsrichtung , d.

Eine auf Grund der gemessenen Werte von Ni und Ag konstruierte "nichtrelativistische experimentelle Kurve" mit m = 0, 9, deren Gültigkeit man für Elemente mit etwa 4 < Z ~ 15 annehmen darf. Außerdem sind die theoretischen Kurven von BURHOP eingetragen. Es ist nicht der absolute sondern der relative Ionisierungsquerschnitt 3) aufgetragen. Die Näherung (4. 8) hat nämlich O'~ = O'k/O'k (u/uk ihr Maximum bei u/u k e 1 / m, die Maxima liegen also in der Nähe der Zahl 3. Die gemessenen und die nach den Gln.

8) hat nämlich O'~ = O'k/O'k (u/uk ihr Maximum bei u/u k e 1 / m, die Maxima liegen also in der Nähe der Zahl 3. Die gemessenen und die nach den Gln. (4. 8) bis (4. 10) berechneten Werte von O'k für u = 3uk und u k nach LANDOLT-BÖRNSTEIN sind für eine Reihe von Elementen in Tabelle 4~ 1 eingetragen. PWKH bemerken, daß die von SMITH (1930) an He gemessenen Ionisierungsquerschnitte sich nicht mit (4. 8) annähern lassen. Dies wird mit der verhältnismäßig lockeren Bindung des zweiten K-Elektrons an den He-Kern erklärt.

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